新しいHDDが存在すべきではないエラーを一度に報告するとはどういう意味ですか？
マシンに複数の新しいHDDを取り付けたところ、そのうちの1つに2つのエラーが報告されていることに気付いたので、smartctl -xそれの上でこれを得ました：
smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.4.0-141-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Hitachi/HGST Ultrastar 7K4000
Device Model: HGST HUS724040ALA640
Serial Number: [REDACTED]
LU WWN Device Id: [REDACTED]
Firmware Version: MFAOAC50
User Capacity: 4,000,787,030,016 bytes [4.00 TB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Rotation Rate: 7200 rpm
Form Factor: 3.5 inches
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ATA8-ACS T13/1699-D revision 4
SATA Version is: SATA 3.0, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is: Tue Jan 1 05:33:21 2019 PST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
AAM feature is: Unavailable
APM feature is: Disabled
Rd look-ahead is: Enabled
Write cache is: Enabled
ATA Security is: Disabled, NOT FROZEN [SEC1]
Wt Cache Reorder: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x82) Offline data collection activity
was completed without error.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 24) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 543) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAGS VALUE WORST THRESH FAIL RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate PO-R-- 100 100 016 - 0
2 Throughput_Performance P-S--- 138 138 054 - 74
3 Spin_Up_Time POS--- 100 100 024 - 572
4 Start_Stop_Count -O--C- 100 100 000 - 8
5 Reallocated_Sector_Ct PO--CK 100 100 005 - 0
7 Seek_Error_Rate PO-R-- 100 100 067 - 0
8 Seek_Time_Performance P-S--- 142 142 020 - 25
9 Power_On_Hours -O--C- 100 100 000 - 520
10 Spin_Retry_Count PO--C- 100 100 060 - 0
12 Power_Cycle_Count -O--CK 100 100 000 - 8
192 Power-Off_Retract_Count -O--CK 100 100 000 - 16
193 Load_Cycle_Count -O--C- 100 100 000 - 16
194 Temperature_Celsius -O---- 166 166 000 - 36 (Min/Max 22/56)
196 Reallocated_Event_Count -O--CK 100 100 000 - 0
197 Current_Pending_Sector -O---K 100 100 000 - 0
198 Offline_Uncorrectable ---R-- 100 100 000 - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count -O-R-- 200 200 000 - 0
||||||_ K auto-keep
|||||__ C event count
||||___ R error rate
|||____ S speed/performance
||_____ O updated online
|______ P prefailure warning
General Purpose Log Directory Version 1
SMART Log Directory Version 1 [multi-sector log support]
Address Access R/W Size Description
0x00 GPL,SL R/O 1 Log Directory
0x01 SL R/O 1 Summary SMART error log
0x03 GPL R/O 1 Ext. Comprehensive SMART error log
0x04 GPL R/O 7 Device Statistics log
0x06 SL R/O 1 SMART self-test log
0x07 GPL R/O 1 Extended self-test log
0x08 GPL R/O 2 Power Conditions log
0x09 SL R/W 1 Selective self-test log
0x10 GPL R/O 1 SATA NCQ Queued Error log
0x11 GPL R/O 1 SATA Phy Event Counters log
0x20 GPL R/O 1 Streaming performance log [OBS-8]
0x21 GPL R/O 1 Write stream error log
0x22 GPL R/O 1 Read stream error log
0x80-0x9f GPL,SL R/W 16 Host vendor specific log
0xe0 GPL,SL R/W 1 SCT Command/Status
0xe1 GPL,SL R/W 1 SCT Data Transfer
SMART Extended Comprehensive Error Log Version: 1 (1 sectors)
Device Error Count: 2
CR = Command Register
FEATR = Features Register
COUNT = Count (was: Sector Count) Register
LBA_48 = Upper bytes of LBA High/Mid/Low Registers ] ATA-8
LH = LBA High (was: Cylinder High) Register ] LBA
LM = LBA Mid (was: Cylinder Low) Register ] Register
LL = LBA Low (was: Sector Number) Register ]
DV = Device (was: Device/Head) Register
DC = Device Control Register
ER = Error register
ST = Status register
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 2 [1] occurred at disk power-on lifetime: 16878 hours (703 days + 6 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER -- ST COUNT LBA_48 LH LM LL DV DC
-- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
40 -- 51 00 0f 00 01 12 cd a0 31 02 00 Error: UNC at LBA = 0x112cda031 = 4610433073
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FEATR COUNT LBA_48 LH LM LL DV DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- == -- == -- == == == -- -- -- -- -- --------------- --------------------
60 00 10 00 10 00 01 12 cd a0 30 40 00 1d+08:13:30.021 READ FPDMA QUEUED
61 00 10 00 00 00 01 12 63 a0 30 40 00 1d+08:13:30.021 WRITE FPDMA QUEUED
60 00 10 00 00 00 01 12 cc a0 30 40 00 1d+08:13:30.017 READ FPDMA QUEUED
61 00 10 00 10 00 01 12 62 a0 30 40 00 1d+08:13:30.011 WRITE FPDMA QUEUED
60 00 10 00 00 00 01 12 cb a0 30 40 00 1d+08:13:30.004 READ FPDMA QUEUED
Error 1 [0] occurred at disk power-on lifetime: 10610 hours (442 days + 2 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER -- ST COUNT LBA_48 LH LM LL DV DC
-- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
40 -- 51 01 34 00 01 12 f9 3a fc 02 00 Error: UNC at LBA = 0x112f93afc = 4613290748
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FEATR COUNT LBA_48 LH LM LL DV DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- == -- == -- == == == -- -- -- -- -- --------------- --------------------
60 00 08 00 10 00 00 00 00 01 2c 40 00 2d+01:26:34.533 READ FPDMA QUEUED
61 00 10 00 08 00 00 57 04 60 00 40 00 2d+01:26:33.675 WRITE FPDMA QUEUED
60 02 00 00 00 00 01 12 f9 3a 30 40 00 2d+01:26:33.386 READ FPDMA QUEUED
60 02 00 00 00 00 01 12 f9 38 30 40 00 2d+01:26:33.384 READ FPDMA QUEUED
60 02 00 00 00 00 01 12 f9 36 30 40 00 2d+01:26:33.382 READ FPDMA QUEUED
SMART Extended Self-test Log Version: 1 (1 sectors)
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 26741 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
SCT Status Version: 3
SCT Version (vendor specific): 256 (0x0100)
SCT Support Level: 1
Device State: Active (0)
Current Temperature: 36 Celsius
Power Cycle Min/Max Temperature: 35/38 Celsius
Lifetime Min/Max Temperature: 22/56 Celsius
Under/Over Temperature Limit Count: 0/0
SCT Temperature History Version: 2
Temperature Sampling Period: 1 minute
Temperature Logging Interval: 1 minute
Min/Max recommended Temperature: 0/60 Celsius
Min/Max Temperature Limit: -40/70 Celsius
Temperature History Size (Index): 128 (43)
Index Estimated Time Temperature Celsius
44 2019-01-01 03:26 37 ******************
... ..( 15 skipped). .. ******************
60 2019-01-01 03:42 37 ******************
61 2019-01-01 03:43 36 *****************
... ..( 20 skipped). .. *****************
82 2019-01-01 04:04 36 *****************
83 2019-01-01 04:05 35 ****************
... ..( 2 skipped). .. ****************
86 2019-01-01 04:08 35 ****************
87 2019-01-01 04:09 36 *****************
88 2019-01-01 04:10 36 *****************
89 2019-01-01 04:11 35 ****************
... ..( 40 skipped). .. ****************
2 2019-01-01 04:52 35 ****************
3 2019-01-01 04:53 36 *****************
... ..( 4 skipped). .. *****************
8 2019-01-01 04:58 36 *****************
9 2019-01-01 04:59 37 ******************
... ..( 30 skipped). .. ******************
40 2019-01-01 05:30 37 ******************
41 2019-01-01 05:31 36 *****************
42 2019-01-01 05:32 36 *****************
43 2019-01-01 05:33 36 *****************
SCT Error Recovery Control:
Read: Disabled
Write: Disabled
Device Statistics (GP Log 0x04)
Page Offset Size Value Flags Description
0x01 ===== = = === == General Statistics (rev 2) ==
0x01 0x008 4 8 --- Lifetime Power-On Resets
0x01 0x018 6 1598892472 --- Logical Sectors Written
0x01 0x020 6 1386302 --- Number of Write Commands
0x01 0x028 6 3655763419 --- Logical Sectors Read
0x01 0x030 6 7494155 --- Number of Read Commands
0x03 ===== = = === == Rotating Media Statistics (rev 1) ==
0x03 0x008 4 520 --- Spindle Motor Power-on Hours
0x03 0x010 4 520 --- Head Flying Hours
0x03 0x018 4 16 --- Head Load Events
0x03 0x020 4 0 --- Number of Reallocated Logical Sectors
0x03 0x028 4 0 --- Read Recovery Attempts
0x03 0x030 4 0 --- Number of Mechanical Start Failures
0x04 ===== = = === == General Errors Statistics (rev 1) ==
0x04 0x008 4 0 --- Number of Reported Uncorrectable Errors
0x04 0x010 4 0 --- Resets Between Cmd Acceptance and Completion
0x05 ===== = = === == Temperature Statistics (rev 1) ==
0x05 0x008 1 37 --- Current Temperature
0x05 0x010 1 35 N-- Average Short Term Temperature
0x05 0x018 1 - N-- Average Long Term Temperature
0x05 0x020 1 56 --- Highest Temperature
0x05 0x028 1 22 --- Lowest Temperature
0x05 0x030 1 41 N-- Highest Average Short Term Temperature
0x05 0x038 1 25 N-- Lowest Average Short Term Temperature
0x05 0x040 1 - N-- Highest Average Long Term Temperature
0x05 0x048 1 - N-- Lowest Average Long Term Temperature
0x05 0x050 4 0 --- Time in Over-Temperature
0x05 0x058 1 60 --- Specified Maximum Operating Temperature
0x05 0x060 4 0 --- Time in Under-Temperature
0x05 0x068 1 0 --- Specified Minimum Operating Temperature
0x06 ===== = = === == Transport Statistics (rev 1) ==
0x06 0x008 4 60 --- Number of Hardware Resets
0x06 0x010 4 13 --- Number of ASR Events
0x06 0x018 4 0 --- Number of Interface CRC Errors
|||_ C monitored condition met
||__ D supports DSN
|___ N normalized value
SATA Phy Event Counters (GP Log 0x11)
ID Size Value Description
0x0001 2 0 Command failed due to ICRC error
0x0002 2 0 R_ERR response for data FIS
0x0003 2 0 R_ERR response for device-to-Host data FIS
0x0004 2 0 R_ERR response for Host-to-device data FIS
0x0005 2 0 R_ERR response for non-data FIS
0x0006 2 0 R_ERR response for device-to-Host non-data FIS
0x0007 2 0 R_ERR response for Host-to-device non-data FIS
0x0009 2 1 Transition from drive PhyRdy to drive PhyNRdy
0x000a 2 2 Device-to-Host register FISes sent due to a COMRESET
0x000b 2 0 CRC errors within Host-to-device FIS
0x000d 2 0 Non-CRC errors within Host-to-device FIS
ご覧のとおり、ドライブの電源投入時間は520（これは1か月も経っていないため正確です）ですが、2つのエラーは10610時間と16878時間に発生したと言っています。明らかに不可能です。
ここで何が起こっていますか？エラーは本当ですか？気になる？私のベンダーがここで何らかの「オドメーター改ざん」を行っている可能性はありますか？
更新
（私はもっと早くこれを持っていただろうが、 HGST Western Digital :/は本当に役に立ちません（OEMドライブにシリアル番号を与えないのに、それらの情報を保持しないのはなぜですか？）、また応答が遅いのです。）
これらをインストールしたとき、古いラベルのようにラベルに製造日が記載されていないことに気づきましたが、メーカーにそれ以上印刷せず、それ以上は何も考えないようにしました…私は Deltikの素晴らしい答えを見つけました。 これらは私には起こりませんでした。
メーカー（の新しい所有者）から公式のWordを取得する試みが失敗した後、私はそれらすべてを引き出し、フラットベッドスキャナーに最大設定で接続しました。古いズームとエンハンスを行うことで、それぞれが消去された証拠を見つけることができました。次に、読みやすい例の1つを示します。
（元の5717×8117px、64.0MB .png慈悲のために省略）
削減、編集された.jpgの概要：
犯罪現場の元の解像度で切り取られた.png（ラベルの右上隅）：
あなたのよりイーグルアイドはおそらくすでにそれを読むことができますが、ここに自動レベルの長方形があります：
そう、そうです。すべてのドライブには、この意図的な詐欺の試みによる微妙な痕跡が残っており、それらはすべて2015年3月/ 4月/ 5月のものです。2018年11月末の「新しい」とは、まったく意味が異なります。
さらに、他のコメント投稿者の一部がそうであるように、SMARTはこのように転覆される可能性があります。リセットできれば、そのポイントのほとんどはなくなっていませんか？
私はこれをさらに追求します、私を信じてください。このスペースをご覧ください。
「走行距離計の改ざん」というあなたの疑惑は正しいと思います 可能です 。記録されたエラーは、読み取り時に不良セクターを示しているため、おそらく本物で間違いなく気になります。ディスクは、ユーザーに届けられる前に消去された可能性が高いため、これらの不良セクターはおそらく再マッピングされています。
ハードドライブを販売した人は、S.M.A.R.T.属性をリセットして、新しいハードドライブのように見せました。
逸話
2015年7月25日、非常によく似た6つのハードドライブをgoHardDrive.comから購入しました。すべてのディスクを確認したところ、ほぼ同じ症状が発生しました。
root@box52:~# smartctl -a /dev/sdb
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-57-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Hitachi Deskstar 7K2000
Device Model: Hitachi HDS722020ALA330
Serial Number: JK1101B9G7U8NF
LU WWN Device Id: 5 000cca 222c38d7e
Firmware Version: JKAOA3MA
User Capacity: 2,000,398,934,016 bytes [2.00 TB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Rotation Rate: 7200 rpm
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ATA8-ACS T13/1699-D revision 4
SATA Version is: SATA 2.6, 3.0 Gb/s
Local Time is: Thu Jul 30 13:57:13 2015 CDT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART STATUS RETURN: incomplete response, ATA output registers missing
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
Warning: This result is based on an Attribute check.
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (23653) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 394) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x000b 100 100 016 Pre-fail Always - 0
2 Throughput_Performance 0x0005 100 100 054 Pre-fail Offline - 0
3 Spin_Up_Time 0x0007 100 100 024 Pre-fail Always - 0
4 Start_Stop_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 1
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 005 Pre-fail Always - 2
7 Seek_Error_Rate 0x000b 100 100 067 Pre-fail Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0005 100 100 020 Pre-fail Offline - 0
9 Power_On_Hours 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
10 Spin_Retry_Count 0x0013 100 100 060 Pre-fail Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1
193 Load_Cycle_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 1
194 Temperature_Celsius 0x0002 206 206 000 Old_age Always - 29 (Min/Max 25/29)
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 2
197 Current_Pending_Sector 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0008 100 100 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x000a 200 200 000 Old_age Always - 0
SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 2
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 2 occurred at disk power-on lifetime: 31311 hours (1304 days + 15 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 ff 01 58 5d 08 Error: UNC 255 sectors at LBA = 0x085d5801 = 140335105
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
25 00 00 00 58 5d 40 00 9d+05:13:00.528 READ DMA EXT
25 00 00 00 57 5d 40 00 9d+05:12:59.801 READ DMA EXT
25 00 00 00 56 5d 48 00 9d+05:12:59.797 READ DMA EXT
25 00 00 00 55 5d 48 00 9d+05:12:59.794 READ DMA EXT
25 00 00 00 54 5d 48 00 9d+05:12:59.789 READ DMA EXT
Error 1 occurred at disk power-on lifetime: 31243 hours (1301 days + 19 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 ff 01 58 5d 08 Error: UNC 255 sectors at LBA = 0x085d5801 = 140335105
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
25 00 00 00 58 5d 40 00 41d+18:29:24.394 READ DMA EXT
25 00 00 00 57 5d 48 00 41d+18:29:24.388 READ DMA EXT
25 00 00 00 56 5d 40 00 41d+18:29:24.383 READ DMA EXT
25 00 00 00 55 5d 40 00 41d+18:29:24.376 READ DMA EXT
25 00 00 00 54 5d 40 00 41d+18:29:24.371 READ DMA EXT
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 0 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
S.M.A.R.T.エラーがなければ、消去を忘れたか、消去できなかった場合、購入したディスクは新品であると確信していました。
疑わしいと思い、Hitachi Global Storage Technologiesに電話をかけたところ、2010年9月24日、少なくとも購入の5年前に少なくとも2つのディスクの保証が有効になっていることがわかりました。製造元の保証は3年後に有効期限が切れました。
私は売り手に不満を述べました。
S.M.A.R.T.属性値を消去することは、車の走行距離計をゼロにすることに似ています。S.M.A.R.T.属性を消去することの大きな問題は、私のようなエンドユーザーがセクターが再割り当てされているかどうかを識別します。再割り当てされていないセクターからすべてのスペアセクターが再割り当てされるまでの範囲が存在する可能性があります。これらのドライブは5年近く経過しており、73.7％以上の時間で少なくとも1つのドライブの電源がオンになっていることを考慮します。私が知らない可能性が高い再マップされたセクターです。
goHardDrive.comは少なくとも1台の故障したハードドライブを私に売却し、6台のハードドライブすべての動作履歴を故意に消去しましたが、販売時にハードドライブの使用状況を明らかにしていません。
ハードドライブの写真も撮りました。
イメージの下部にあるハードドライブは、同じ製造元の参照ディスクです。
参照ディスクにはAPR-2012印刷され、いつ製造されたかを示します。購入した6枚のディスクから製造日が削除されましたが、十分ではありません。かすかにわかる_ [中央のディスクを見てくださいAUG-2010。
これは確かにディスクの履歴を確認します。「走行距離計」がリセットされた中古のハードドライブを購入しました。
結局、売り手は返品のリクエストを受け入れ、全額返金するためにすべてのディスクを送り返しました。
購入するハードドライブに注意してください！摩耗の跡が残っていないか確認してください。