SSDに問題があるかどうかをテストするにはどうすればよいですか？
それで、数週間前に17.10にアップデートし、ほぼ同時にAndroid Studio 3にアップデートしましたが、問題がどこにあるのかわからないので、おそらく両方をアップデートするのは間違いでした。
基本的に、ディスクIOが本当に悪くなったようです。最初はスワップしていることに気付いたので、ラムを2倍にしました（現在は32ギガバイト）が、もうスワップすることはありません。ただし、ディスクIOが発生すると、マシンはまだほとんどフリーズします。フリーズとは、入力ができるまでに非常に遅くなることを意味し、数秒間入力している内容が表示されない場合があります。それが発生すると、多くの場合、1つのキーの長い文字列が表示されます。
コードをコミットすると、Android Studioがコードの分析を行い、UIがフリーズするだけです。数秒かかります。両方を更新する前にこれらの問題が発生することはありませんでした。
また、クラウドステーションのバックアップがNASで実行されると、途方もなく遅くなります。
Samsung SSD 850 PRO 512GB SSDがあります。
それで、私は何が問題が何であるかを見るために実行できますか？
ありがとう。
編集：
Smartctlの出力：
smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.13.0-16-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Samsung based SSDs
Device Model: Samsung SSD 850 PRO 512GB
Serial Number: S250NSAG809789J
LU WWN Device Id: 5 002538 8a0af305f
Firmware Version: EXM02B6Q
User Capacity: 512,110,190,592 bytes [512 GB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Rotation Rate: Solid State Device
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ACS-2, ATA8-ACS T13/1699-D revision 4c
SATA Version is: SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is: Tue Nov 28 16:22:20 2017 CST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 0) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x53) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 272) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 095 095 000 Old_age Always - 23126
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 75
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 098 098 000 Pre-fail Always - 117
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032 070 057 000 Old_age Always - 30
195 ECC_Error_Rate 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
199 CRC_Error_Count 0x003e 100 100 000 Old_age Always - 0
235 POR_Recovery_Count 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 34
241 Total_LBAs_Written 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 37060089586
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
df -i出力：
Filesystem Inodes IUsed IFree IUse% Mounted on
udev 4096227 613 4095614 1% /dev
tmpfs 4111096 1024 4110072 1% /run
/dev/sda1 29908992 4301747 25607245 15% /
tmpfs 4111096 524 4110572 1% /dev/shm
tmpfs 4111096 5 4111091 1% /run/lock
tmpfs 4111096 18 4111078 1% /sys/fs/cgroup
tmpfs 4111096 17 4111079 1% /run/user/122
tmpfs 4111096 458 4110638 1% /run/user/1000
/home/mydir/.Private 29908992 4301747 25607245 15% /home/mydir
Gnome Disk Utilityをインストールし、ウェアレベリングカウントおよびSMARTデータなどのテストを確認します。
報告された割合が高いほど、SSDが摩耗しているため、問題が発生する可能性が高くなります。
次を使用してインストールします。
apt-get install gnome-disk-utility
コマンドラインから起動
Sudo palimpsest
または、アプリケーションメニューの名前Disk Utilityを使用します。
編集：私は誰もがこれを知っているわけではないことを忘れていました：スマート正規化データはカウントダウンしますnot up！
おそらく探している特定のコマンドは次のとおりです。
# smartctl -a /dev/sda | grep Media_Wearout_Indicator
これが高いほど、問題が発生する可能性が高くなります。余談ですが、このヒット後にドライブを交換することをお勧めします。
50％-ミッションクリティカルドライブ（ここでは範囲外の理由で必要にアクセスできるもの何があっても。）
30％-/ homeドライブ（映画/音楽/個人用ファイル、手元に置いておくべきもの）
他のすべて20％（ドライブは、コールドストレージにコミットされる前にバックアップのためにのみオンラインになり、時々しか使用しないOSを保持するドライブなど）
ログ出力によると、ドライブでスマートテストを実行したことはありません。これを行うにはいくつかの方法があります。 1つの方法は、私の回答で説明されているようにGUIを使用することです here。
別の方法は、答え here
Toshiba THNSNH128GBST SSDからの以下のコマンドSudo smartctl -a /dev/sdaからの出力のスニペットに示すように、テストの結果はログに追加されます。
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 14965 -
# 2 Short offline Completed without error 00% 1955 -
# 3 Short offline Completed without error 00% 701 -