私の新しいLenovoT410はゆっくりと動き出しました。どうすれば修正できますか？
私は18年以上Windowsを使用しており、自分自身をパワーユーザーだと考えています。このラップトップは約6か月前のものです）仕様：
- 4 GB RAMおよび
- windows7エンタープライズを実行している
- 120GBのソリッドステートドライブを搭載。
- Intel Core i5 M520、2.4GHz。
最初はかなり気が利いていたが、今では非常に遅くなっている。起動に時間がかかり、アプリの読み込み時間が長く、フォントチューザーの読み込みが遅く、あるディレクトリから別のディレクトリへのファイルのコピーが非常に遅い（約25） KB /秒）。
約50GBの空きディスク容量があります。
（以前のように）高速化するにはどうすればよいですか？おそらく以前よりも3〜4倍遅くなります。
私はこれまで何をしましたか？タスクマネージャー（およびperfmon）を定期的に確認する以外は、それほど多くはありません。私は走ることができることを知っています
chkdsk- ディスクデフラグメンター
腐敗を修正するために利用できるツール/手順は何ですか？
更新：短いセルフテスト後のSmartmonの出力
C:\Program Files (x86)\smartmontools\bin>smartctl -a sda
smartctl 5.41 2011-06-09 r3365 [i686-w64-mingw32-win7(64)] (sf-win32-5.41-1)
Copyright (C) 2002-11 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: SAMSUNG MMCRE28G8MXP-0VBL1
Serial Number: S0ENNEAZ724347
Firmware Version: VBM1EL1Q
User Capacity: 128,035,676,160 bytes [128 GB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: 7
ATA Standard is: ATA/ATAPI-7 T13 1532D revision 1
Local Time is: Wed Jul 27 22:12:49 2011 IST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 240) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 24) minutes.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
9 Power_On_Hours 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 1343
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 827
175 Program_Fail_Count_Chip 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
176 Erase_Fail_Count_Chip 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 099 099 017 Pre-fail Always - 29
178 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Chip 0x0013 080 080 010 Pre-fail Always - 12
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 098 098 010 Pre-fail Always - 48
180 Unused_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 098 098 010 Pre-fail Always - 3792
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x003e 253 253 000 Old_age Always - 0
233 Media_Wearout_Indicator 0x003a 199 199 000 Old_age Always - 292698
234 Unknown_Attribute 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
235 Unknown_Attribute 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
236 Unknown_Attribute 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 121
237 Unknown_Attribute 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 351
238 Unknown_Attribute 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 1342 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
C:\Program Files (x86)\smartmontools\bin>
更新2：
C：> fsutil動作クエリdisabledeletenotify
DisableDeleteNotify =
また、CPU使用率が高くなったことに気づいた後、「WindowsSearch」サービスを無効にしました。
他に何をすべきですか？
すでに多くのことを確認していることを考えると、実際にはソフトウェア/プログラムに問題はないが、SSD自体が速度低下を引き起こしている可能性があります。
私が見つけた情報を考えると ここ と ここ このSSDはTRIMをサポートしていないようですが、内部のガベージコレクターに依存しています。実行を実行する機会が得られるように、少なくともディスクI/Oを使用してコンピューターに数時間を与える必要があるかもしれません。
電源プランを最大化に切り替え（スリープ状態に送信されないようにします）、ネットワーク接続を無効にし（新しい更新はありません）、ウイルス対策ソフトウェアを無効にしてログオフします。それからそれを夜にして、すべてを再びオンにして、それが良くなっているのかどうか確かめてください。
たぶん冷却の問題、それはレノボに関しては通常私の場合それが絞り込むものです。ファンが動作するかどうかを確認し、システム設定を確認して、msconfigユーティリティ（google it）で使用しないサービスを無効にし、AVGまたはNOD32の代わりに、リソースをあまり必要としないセキュリティソリューションを使用してみてくださいSymantec od F-Secure、HDDのデフラグ、ドライバの更新。
情報に基づくと、それはある種のハードドライブサブシステムのボトルネックのように聞こえます。
システムのトラブルや速度低下をチェックするツールについては、Windows 7の内蔵 リソースモニター をチェックしましたか？ （[スタート]→[すべてのプログラム]→[アクセサリ]→[システムツール]→[リソースモニター]、または検索ボックスを使用します:)）
タスクマネージャーを調べて、すべてのユーザーの列に不当な値があるかどうかを確認すると役立ちます：CPU、ワーキングセット（メモリ）、ハンドル、スレッド、ユーザーオブジェクト、GDIオブジェクト、I/O読み取り、I/O書き込み。
各列を降順に並べ替え、コンピューターがアイドル状態の場合でも列の値が更新され続けるアクティブなプロセスを監視します。
セーフモードで起動したときに問題が発生するかどうかをテストすることもできます。そうでない場合、速度低下はインストールした製品が原因です。次に、おそらくセキュリティ指向の製品から始めて、インストールされているすべての製品を1つずつ無効にする必要があります。 Windows用の自動実行 ここで役立ちます。
セーフモードで問題が解決しない場合は、ハードディスクに問題がある可能性があります。 SSDの製造元からディスクヘルステスト製品を探してみてください（SSDのS.M.A.R.T.データに確実にアクセスできるのは製造元だけです）。
ウイルス感染も常に発生する可能性があります。いくつかのウイルス対策製品を使用してスキャンを実行します。